Bildgebende Verfahren

Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Die hochauflösende Rasterelektronenmikroskopie (REM) mit der Option der energiedispersiven Röntgenfluoreszenzanalyse (EDX) ist eines der wichtigsten Verfahren zur Werkstoffuntersuchung. Sie erlaubt die stufenlose Vergrößerung von topographischen Details einer Probe um mehr als 3 Größenordnungen (max. 200.000-fache Vergrößerung) und bietet gleichzeitig die Möglichkeit der selektiven Elementanalyse auf bestimmten Probenbereichen.

So können mit der EDX Punkt- oder Bereichsanalysen mit einer lateralen Auflösung von etwa 5 µm durchgeführt werden. Die Informationstiefe dieser Elementanalysen beträgt (Atommassen-abhängig) 2 µm bis 5 µm. Die EDX erfasst alle Elemente mit Ordnungszahlen größer gleich 5 (Bor).
Mittels REM/EDX untersuchen wir Oberflächenbeschaffenheiten, Bruchflächen, sehr geringe Rückstandsmengen sowie mit Hilfe metallographischer Querschliffe Fügebereiche, Schichtsysteme und vieles mehr.

Beispiel 1:

Beispiel 2:

Optisches Multischichtsystem aus alternierenden SiO2- und ZrO2-Schichten.

Filtermatte mit Partikelbelegung; das Spektrum entstand als Spotanalyse von einem Partikel.




Lichtmikroskopie

Im Vergrößerungsbereich bis 1.000 wird in der Regel die Lichtmikroskopie in verschiedenen Varianten angewendet. Lichtmikroskopische Aufnahmen sind einfach und schnell durchführbar. Farbinformationen zu den Probenoberflächen gehen nicht verloren.

Beispiel 1:

Beispiel 2:

Gefügeuntersuchung an einem witterungsbeständigen Stahl (Ferrit/Perlit)

Schweißnahtuntersuchung




Confocal Laser Scanning Microscopy (CLSM)

Das CLSM ermöglicht eine weitaus höhere Gesamtvergrößerung. 2D- und 3D-Rautiefenparameter können erfasst werden.